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  红外热像仪IR-InSight XS/XST

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  FlukeTi30热成像仪

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  新品Fluke红外热像仪Ti200

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  简介：温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +650 °C （-4 °F 至 +1202 °F） 温度测量精度 ± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值） 屏显发射率校正 是（根据数字和表格） 屏显反射背景温度补偿 是

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  Fluke热成像仪Ti40FT

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  简介：热敏度 (NETD) Ti45: ≤0.08 °C(80 mK)，30 °C 时 Ti40: ≤0.09 °C (90 mK) 30 °C时 探测器数据采集/图像频率* 30 Hz/60 Hz 对焦 SmartFocus；一指通连续聚焦

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  热成像仪FlukeTi50

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  热成像仪FlukeTi20

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  红外热像仪FlukeTi25

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  简介：视场角度 23° × 17° 空间分辨率（IFOV） 2.5 mRad 最小聚焦距离 红外：15 cm （6 in） 可见光：46 cm (18 in) 聚焦 手动 像频 9 Hz 刷新率 探测器类型 160 × 120 焦平面阵列，非制冷微测辐射热计 红外镜头类型 20 mm F = 0.8 镜头 热灵敏度（NETD） ≤ 0.1 °C @ 30 °C (100 mK) 红外频带 7.5 μm～14 μm 可见光照相机 640 × 480 分辨率

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  Fluke热成像仪Ti50FT

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  简介：热学 视场 (FOV) 20 毫米镜头 23 °x 17 °FOV，10.5 毫米镜头 42 °x 32 ，54 毫米镜头 9° x 6° 空间分辨率 (IFOV)* 1.30 mrad 最小焦距* 0.15 米 热敏度 (NETD) Ti55: ≤0.05 °C(50 mK)，30 °C 时 Ti50: ≤0.07 °C (70 mK) 30 °C时

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  热成像仪Fluke Ti45

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  简介：Fluke Ti4x 型产品提供了各种热成像任务所需的一切功能。 借助 160 x 120 探测器和精确至 0.08 ºC (80mK) 的温度灵敏度 (NETD)，它们可提供高分辨率的图像，甚至能清晰显示出最小的温度差异。 这些设备采用 Windows® CE 菜单结构，操作异常方便。

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  红外热像仪FlukeTiR1

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  简介：热像仪和软件中均提供了IR-Fusion®技术（以全屏或画中画方式融合可见光图像和红外图像），方便识别和报告故障。 坚固、可靠，工程化设计，可承受2 m（6.5 ft）跌落 9.1 cm（3.6 英寸）（对角线） 彩色 VGA（640 x 480）液晶显示屏