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  红外热像仪IR-InSight XS/XST

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  195 任意波形发生器

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  新品Fluke红外热像仪Ti200

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  简介：温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +650 °C （-4 °F 至 +1202 °F） 温度测量精度 ± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值） 屏显发射率校正 是（根据数字和表格） 屏显反射背景温度补偿 是

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  FlukeTi30热成像仪

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  MPS-450多参数监护仪模拟仪

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  压力校准器Fluke718Ex

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  F561二合一测温仪

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  2635T记录型温度采集器

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  热成像仪FlukeTi10

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  简介：视场角度 23°×17° 空间分辨率（IFOV） 2.5 mRad 最小聚焦距离 红外：15 cm （6 in） 可见光：46 cm (18 in) 聚焦 手动 像频 9 Hz 刷新率 探测器类型 160 × 120 焦平面阵列，非制冷微测辐射热计 红外镜头类型 20 mm F = 0.8 镜头 热灵敏度（NETD） ≤ 0.2 °C @ 30 °C (200 mK) 红外频带 7.5 μm～14 μm 可见光照相机 640 × 480 分辨率

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  PM6306\PM6304RCL测量仪

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