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Topas2000电能质量分析仪
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MPS-450多参数监护仪模拟仪
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PM 6681 高性能计时计频计
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Fluke热成像仪Ti40FT
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简介：热敏度 (NETD) Ti45: ≤0.08 °C(80 mK)，30 °C 时 Ti40: ≤0.09 °C (90 mK) 30 °C时 探测器数据采集/图像频率* 30 Hz/60 Hz 对焦 SmartFocus；一指通连续聚焦
热成像仪Fluke Ti32
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简介：温度测量范围（-10 °C 以下未经校准） -20 ℃ ～ +600 ℃ (-4 ℉ ～ +1112 ℉) 准确度 ± 2 ℃ 或者 2 %，取大值 发射率修正 是 背景温度补偿 是 传输校正 是
新品Fluke红外热像仪Ti200
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简介：温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +650 °C （-4 °F 至 +1202 °F） 温度测量精度 ± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值） 屏显发射率校正 是（根据数字和表格） 屏显反射背景温度补偿 是
热成像仪FlukeTi10
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简介：视场角度 23°×17° 空间分辨率（IFOV） 2.5 mRad 最小聚焦距离 红外：15 cm （6 in） 可见光：46 cm (18 in) 聚焦 手动 像频 9 Hz 刷新率 探测器类型 160 × 120 焦平面阵列，非制冷微测辐射热计 红外镜头类型 20 mm F = 0.8 镜头 热灵敏度（NETD） ≤ 0.2 °C @ 30 °C (200 mK) 红外频带 7.5 μm～14 μm 可见光照相机 640 × 480 分辨率
PM 6666 台式/系统式计时计频计
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Fluke12数字多用表
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Fluke45双显示数字多用表
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