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Fluke热成像仪Ti40FT
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简介：热敏度 (NETD) Ti45: ≤0.08 °C(80 mK)，30 °C 时 Ti40: ≤0.09 °C (90 mK) 30 °C时 探测器数据采集/图像频率* 30 Hz/60 Hz 对焦 SmartFocus；一指通连续聚焦
8508A 参考级数字多用表
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新品Fluke红外热像仪Ti200
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简介：温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +650 °C （-4 °F 至 +1202 °F） 温度测量精度 ± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值） 屏显发射率校正 是（根据数字和表格） 屏显反射背景温度补偿 是
