热成像仪参数测试系统发展简介

热像仪参数测试系统发展简介

热成像仪从20世纪20年代末开始发展，从第一代的光机扫描式发展到现在第二代的阵列式焦平面凝视成像。阵列式凝视成像的焦平面热像仪在性能上大大优于光机扫描式热像仪。其探测器由单片集成电路组成，被测目标的整个视野都聚焦到上面，图像更加清晰，使用更加方便，仪器也更小巧轻便。
　　热成像仪成像的质量参数是衡量一个热成像仪好坏的标准，这些参数客观地反映了热成像仪对各种目标的分辨能力、探测能力、工作波段、工作温度、精度、范围等重要特性，正确而且准确地测出这些参数的重要性也就体现出来了。
　　对这两种热成像仪进行参数测试的设备并没有太多的改变，只是不断地有新的技术和新的方法引入，已经从原来的清一色主观测量法发展到了今天越来越多的客观测量法。