透射电子显微镜可提供的信息

透射电子显微镜可提供的信息
①可了解试样的大小及形状。依次可了解其结晶的不完整性、粒度分布、表面结构、聚集态等。 
　　②可得到电子束衍射图像。如非晶样品，可了解晕圈；单晶样品可了解二维点阵的单晶图像；多晶可了解德拜-谢乐环。特别是对多晶时决定试样德单位晶格的大小，由各面距的测定可以进行试样的鉴定。 多用表| 验电笔| 示波表| 电流表| 钩表| 测试器| 电力计| 电力测量仪| 光度计| 电压计| 电流计|
　　③可了解晶体的晶格缺陷及位错的存在以及其种类、性质、方向等。根据超高分辨率电子显微镜图像，可了解晶体内的分子排列、原子排列及其不规则性、分子内的原子排列等。
　　④可了解晶体的取向，固体反应在反应前后的取向变化等。
　　⑤可进行极微量样品的元素分析。通过试样发射的X射线能量分析。对试样可进行组成元素的定性、定量分析以及试样的形态结构（energy dispersive spectroscopy, EDS）。通过试样内的电子能部分被试样吸收，分析这种能量便可进行同样的分析(electron energy loss spectroscopy, EELS)。
　　与只能反映试样平均结构的X射线衍射分析法相比较，电子束衍射图像，电子显微镜图像可得到非常微小范围的信息，如可了解在规则结构中的不规则部分，或在不规则结构中的规则结构。而且利用EDS、EELS进行元素分析均可进行直径为1μm以下到1nm的微小的试样范围的超微分析。而且这种分析法是可以用目测观察和选择，这是其他分析方法所没有的优点。