耐火材料X射线荧光光谱分析方法

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耐火材料X射线荧光光谱分析方法

摘要:主要介绍高铝质、镁铝质及镁铬质耐火材料x射线荧光光谱分析方法-熔铸玻璃片法的国家标准方法的试验工作。试验表明本方法具有分析快速、准确的优越性。照度计| 噪音计| 辐照计| 声级计| 温湿度计| 红外线测温仪| 温湿度仪| 红外线温度计| 露点仪| 亮度计| 温度记录仪|

关键词:耐火材料;X射线荧光光谱法;标准方法
 
  我国X射线荧光光谱法广泛用于冶金、石油、化工等行业的原材料和产品的化学成分测定[1],但相关的X射线荧光光谱法国家标准较少。同样,国内耐火材料生产、应用及科研开发工作中,质量的控制经常受常规的化学分析速度慢而制约。其不仅费时、费力,而且分析时使用大量的酸和碱,导致污染环境。上世纪70年代X射线荧光光谱仪出现了。用这种新仪器可以进行化学分析。应用于耐火材料领域。具有分析快速、准确、污染少和自动化程度高等优点。虽然目前耐火材料分析方法有相关的国家标准(ISO 12677-2003 Chemical analysis of refractory products by XRF-Fused cast bead method)、国家标准(GB/T14503硅酸盐岩石化学分析方法X射线荧光光谱法测定主、次元素量)。但却没有对应的耐火材料X射线荧光光谱法国家标准。根据国家技术监督局下达起草“耐火材料的化学分析方法X射线荧光光谱分析法” 国家标准。我们根据现有耐火材料的技术发展,进行了高铝质、镁铝质、镁铬质耐火材料的试验,试验表明X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)测定高铝质、镁铝质、镁铬质耐火材料具有较好的精密度。X荧光分析值与标准值和化学分析值相吻合。能满足常规分析的要求。

1 实验部分

1.1 仪器
  X射线荧光光谱仪,铑靶X射线管(3kW以上),AUTO1000M玻璃珠熔融机。铂-金合金坩埚(95%Pt+5%Au)。规格:上端内径45mm,下端内径33mm。高25mm。
  氩甲烷气体(Ar 90%,CH410%)。
1.2 试剂
1.2.1 四硼酸锂
  a)熔剂在700℃灼烧2h后置于干燥器内,冷却至室温,待用。
  b)每1000g熔剂中取二份各1g, 在700℃灼烧1h,恒重。求得灼烧失量L。实际称样量按公式(1)计算:

式中:W-实际称取熔剂量,W0-方法所要求的量,L-灼烧失量。
1.2.2 高纯试剂
  a)氧化硅、氧化铝和氧化镁, 测定烧失如下:
  在1200±50℃下灼烧30min,在干燥器中冷却至室温。再称重。依据这个烧失,称相应的未烧失的物质量来制备熔融片。
  b)碳酸钙、碳酸钾和碳酸钠,用前在230±20℃下干燥60min,在干燥器中冷却至室温。
  c)氧化铁(Ⅲ)在700±25℃下灼烧30min,在干燥器中冷却至室温。
  d)四氧化三锰(Mn3O4)、氧化钛和氧化铬,在1000±25℃下灼烧30min。在干燥器中冷却至室温。
  e)磷酸二氢钾。
1.2.3 分析纯试剂
  溴化铵、碘化铵。
1.3 标准样品
  GSBH003、BH0140-1、YSBC18802-93、YS-BC18803-94、GBW03122等。
1.4 样品杯再现性试验
  取纯Al2O3(100%)试剂熔融成一个玻璃片,分别放人12个样品杯中进行测定。其测定结果见表1。

  从表1中可看出样品杯之间的再现性结果好,能用于测定样品。
1.5 熔融试验
1.5.1 熔剂选择和稀释比
  本试验X射线荧光光谱分析采用的熔剂是四硼酸锂(熔点740℃),熔剂对样品稀释比为10:1。
1.5.2 熔剂烧失量的试验
  每l000g熔剂中取二份各1g,在700℃下灼烧1h。恒重。求得灼烧失量L。结果见表2。

1.5.3 熔融温度和时问的选择
  为了确定最佳的熔融时间和温度。熔铸样片经X射线荧光光谱仪测定元素的强度。样片制备的重复性按公式(2)、(3)计算,其结果应满足:当Yi>40时,σi<0.15,并且,当8≤Yi≤40时,σi<0.1。

式中:xi-i组分的平均测定值(cps),xij-i组分的j玻璃片的测定值(cps),σi-i组分的分析精度,yi-i组份的含量(%)。
  经过不同熔融时问和温度试验,对于高铝耐火材料,称取相同的试样(D031,A12O392.59% ,Ti2O3 3.56%)六份,在相同熔融时问(25min)和温度(1100℃)下熔融玻璃片,经X射线荧光光谱仪测定元素的强度,结果见表3。

  从表3的数据中可得出, 当采用熔融温度1100℃,时间25min时其熔融结果才达到均匀性要求。
  同样,对于镁铝耐火材料,采用熔融温度110℃,时问20min熔片;对于镁铬耐火材料,用熔融温度1150℃,时间28min熔片,熔融结果才达到均匀性要求。
1.6 仪器参数的选择
  根据样品中待测元素谱线特点,确定所用的晶体和探测器, 扫描确定峰等参数,仪器测量参数见表4。

1.7 检测极限
  配制纯的A12O3和SiO2玻璃片各一片,测量各元素的强度,用下列公式计算。
  各组分的检测极限见表5。

  检出限计算公式:

式中:Rb-100%Al2O3基体得到的待测元素的背景计数(CP);S-灵敏度(CP/%)。
  注:可用100%SiO2基体得到Al2O3检出限。
1.8 校准样品的制备
  由于我国没有系列高铝、镁铝、镁铬校准样品,根据试验范围,利用标准样品和其它标准样品及纯试剂配制系列标准玻璃片。人工配制的系列标准样品含量范围见表6。

1.9 谱线重叠校正试验
  在高铝质耐火材料中铝的含量高(>45%),脱模剂溴的Kβ对铝的Kα产生重叠干扰,定量称取脱模剂(0.030g)能消除影响。

2 结果和讨论

2.1 校准曲线
  以浓度和测量强度制作校准曲线, 由于元素之间存在吸收和增强.采用理论α系数进行基体校正。α系数见表7。

  曲线回归见图1、图2、图3,从中可看出各组分具有良好的回归精度(SEE)。


2.2 精度试验
  高铝质、镁铝质及镁铬质耐火材料同一试样熔制十片玻璃片,分别测定其浓度。方法精密度结果见表8~10。


  从表8~10中可见,此方法的精度较佳。
  采用标准样品和具有化学值的样品作为未知样品进行测定。结果见表11。从分析结果对照表中可看出此方法具有较好的准确度。


3 结论
 
  从以上的试验结果可得出,本方法具有较好的精度.X荧光分析值与标准值和化学分析值比较.结果能满足常规分析的要求。
发布人:2011/11/19 12:00:001742 发布时间:2011/11/19 12:00:00 此新闻已被浏览:1742次