差热分析在纯度测定中的应用 由于差示扫描量热法具有快速、精确、试样用量少以及能测定物质的绝对纯度等优点,近年来已广泛应用于无机物、有机物和药物的纯度分析。
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电力分析仪 DSC 测定纯度是根据熔点或凝固点下降来确定杂质含量的,基本原理是以Van t Hoff 方程式为依据:
(24)

式中Tm?平衡时含杂质样品的熔点;
T0?平衡时纯样品的熔点;
R?气体常数;
△Hf0?纯样品的熔融热焙;
x2?样品中所含杂质的摩尔数。
此式表示凝固点下降与杂质含量之间的关系。关于纯样品的熔点可通过下列方法求得:
令样品在熔化过程中的熔融分数F为:
(25)

式中TS为熔化过程中样品的温度。从下图可看到液相杂质浓度与熔融分数F 以及TS 与1 / F 的关系。

将(24)式代入(25)即得
(26)

TS-1/F 图为一直线。利用外推法可求出1 / F=0时的纯样品熔点T0 ,从直线斜率-RT02x2/△Hf0(假设△Hf0与温度和杂质无关)可算出x2。
在用DSC 测定纯度时,必须满足Van′t Hoff 方程所要求的条件:
(a)样品和杂质形成低共熔体,而不能形成固溶体。
(b)在液相中样品和杂质应互溶为一理想溶液,即其活度系数为1。
(c)杂质浓度小,即溶液为稀溶液。
(d)固相和液相应处于热力学平衡状态。用DSC 测定纯度的方法有单峰法、双峰法和多峰法。通常采用的是单峰法,新型DSC 仪都配有单峰法测定纯度的软件。
实例:利用单峰法测定菲那西汀中苯酰胺杂质的含量,所测结果列于下表。

对于单峰法,所测样品的杂质含量不得超过3%。