原子吸收的背景校正之塞曼效应校正背景

原子吸收的背景校正之塞曼效应校正背景

该法是1969 年由M . Prugger 和R . Torge 提出来的。塞曼效应校正背景是基于光的偏振特性。目前在商品仪器中应用的吸收线调制法，调制方式有恒定磁场与可变磁场调制方式两种。
　　恒定磁场调制方式是在原子化器上垂直于光束方向施加一恒定磁场，在磁场的作用下，分析线分裂为π与σ_± 组分，前者与分析线的波长相同，平行于磁场方向，后者偏离分析线的波长，垂直于磁场方向。光源发射线经过起偏器后变为偏振光。随着起偏器的旋转，平行与垂直于磁场方向的偏振光交替地通过原子化器，当平行于磁场方向的偏振光通过原子化器时，π与σ_±组分都产生吸收，测得原子吸收与背景吸收的总吸光度；当垂直于磁杨方向的偏振光通过原子化器时，由于偏振方向不同，不为π组分吸收，测得分析线波长处的背景吸收的吸光度。两次测得的吸光度值相减，便得到校正了背景吸收后的分析线的吸光度值。转速计| 水份计| 水份仪| 分析仪| 溶氧计| 电导度计| PH计| 酸碱计| 糖度计| 盐度计| 酸碱度计| 电导计|
　　可变磁场调制方式是在原子化器上垂直于光束方向施加一电磁铁，它仅在原子化阶段被激磁。偏振器是固定的，其作用是去掉平行于磁场方向的π组分，只让垂直于磁场方向的σ_±组分通过原子化器。在零磁场时，测得原子吸收与背景吸收的总吸光度，激磁时，只测得背景吸收的吸光度，两次测得的吸光度值相减，便得到校正了背景吸收后的分析线的吸光度值。

　　塞曼效应校正背景可以校正吸光度高达1.5～2.0的背景，能校正精细结构与光谱干扰引起的背景吸收。缺点是，由于π组分吸收曲线的弯曲程度大于σ_±组分吸收曲线的弯曲程度，故在高浓度测定时，工作曲线出现返转，产生双值曲线。光路中存在偏振器，光能量有损失，影响测定灵敏度。为了克服这一缺点，Perkin-Elmer 公司突破传统的横向塞曼效应加偏振器校正背景的设计，开发了采用纵向交流塞曼效应校正背景与横向加热的新型原子吸收分光光度计，纵向磁场方向与光速平行，不存在π组分，无需偏振器，增大了光通量，当有磁场时，只测得背景吸收。纵向与横向塞曼效应校正背景的原理示意图，如下图所示。