X荧光测厚仪的原理

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X荧光测厚仪的原理

物质经X射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

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发布人:2009/3/4 10:53:001721 发布时间:2009/3/4 10:53:00 此新闻已被浏览:1721次